產(chǎn)品中心 · 熒光粉
PHOSPHOR TECHNOLOGY @ 熱測(cè)溫?zé)晒夥?/h3>
產(chǎn)品負(fù)責(zé)人
姓名:李工
電話:0431-85916189
郵箱:info@china-quantum.com
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溫度會(huì)影響熒光粉的發(fā)射特性。這些特性包括發(fā)射強(qiáng)度、峰值波長(zhǎng)(發(fā)射和激發(fā))、光譜形狀、衰減和上升時(shí)間。通過(guò)測(cè)量一種或多種特性,就可以確定熒光粉的溫度;以這種方式使用的熒光粉被稱為熱測(cè)溫熒光粉,通過(guò)將它們合并到一個(gè)系統(tǒng)中,可以確定系統(tǒng)的溫度。
峰值波長(zhǎng)的變化通常不足以用于測(cè)量溫度。有一個(gè)例外是Y2O3:Eu的激發(fā)峰,其位移最多可達(dá)0.6 nm/K。
一種常見(jiàn)的技術(shù)是測(cè)量?jī)蓚€(gè)發(fā)射峰的比率。該材料通常包含具有多個(gè)發(fā)射峰的單一鑭系元素激活劑,或兩種不同的激活劑,每種激活劑都有自己的發(fā)射峰。升高溫度會(huì)改變?cè)摫嚷?。高能量激發(fā)態(tài)峰的發(fā)射強(qiáng)度相對(duì)于低能量激發(fā)態(tài)峰的發(fā)射強(qiáng)度大。
測(cè)量上升時(shí)間可以作為衰減時(shí)間的替代方法,溫度會(huì)影響電子在激發(fā)態(tài)能級(jí)積累的速度,升高溫度會(huì)縮短所需的時(shí)間。通過(guò)測(cè)量發(fā)射強(qiáng)度達(dá)到最大值所需的時(shí)間,可以確定溫度大小。
這些熒光粉可用于工程(熱障涂層、表面溫度監(jiān)測(cè)、流體流動(dòng)分析、電路板等領(lǐng)域的多種不同應(yīng)用)。 以下是我們提供的一系列熱測(cè)溫熒光粉。
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貨號(hào) | 化學(xué)成分 | 中值粒徑(微米) | 使用示例 |
EQD25/F-U1 | Mg3.5FGeO5:Mn | 4.0 | 表面溫度測(cè)量 |
KEMK63/UF-P2 | BaMgAl10O17:Eu | 2.5 | 粒子圖像測(cè)速 |
MK24/F-X | Al2O3:Cr | 3.5 | |
QMK24/N-C1 | Y3Al5O12:Cr | 8.0 | 表面溫度監(jiān)測(cè) |
QMK66/F-A1 | Y3Al5O12:Dy | 4.0 | 超高溫測(cè)量 |
SKL63/F-A1 | La2O2S:Eu | 3.5 | 發(fā)動(dòng)機(jī)溫度 |
UPK24/UF-X | Gd3Ga5O12:Cr | 2.5 | |
UPK24C/UF-X | Gd3Ga5O12:Cr,Ce | 2.5 | 發(fā)動(dòng)機(jī)表面涂層 |
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除了上述列表的材料,我們可以根據(jù)客戶的規(guī)格需求,提供寬范圍的熱測(cè)溫?zé)晒獠牧?,?qǐng)聯(lián)系我們。